microscopie en champ proche
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Définitions
La microscopie à sonde locale ( MSL ) ou microscopie en champ proche ( MCP ) ou scanning probe microscopy ( SPM ) en anglais est une technique de microscopie permettant de cartographier le relief ( nano-topographie ) ou une autre grandeur physique en balayant la surface à imager à l'aide d'une pointe très fine ( la pointe est idéalement un cône se terminant par un seul atome ) .
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